粉末涂料電阻率測(cè)試儀粉體測(cè)試(1)粒度:粉體比表面積與粒度成反比,粉體粒度越小,則比表面積越大。隨著粉體粒度的減小,粉體之間分子引力、靜電引力作用逐漸增大,降低粉體顆粒的流動(dòng)性;其次,粉體粒度越小,粒...
查看詳情產(chǎn)品中心
Product Center當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心
product
產(chǎn)品分類010-57223836
粉末涂料電阻率測(cè)試儀粉體測(cè)試(1)粒度:粉體比表面積與粒度成反比,粉體粒度越小,則比表面積越大。隨著粉體粒度的減小,粉體之間分子引力、靜電引力作用逐漸增大,降低粉體顆粒的流動(dòng)性;其次,粉體粒度越小,粒...
查看詳情自動(dòng)粉末電阻率及壓實(shí)密度儀粉體測(cè)試(1)粒度:粉體比表面積與粒度成反比,粉體粒度越小,則比表面積越大。隨著粉體粒度的減小,粉體之間分子引力、靜電引力作用逐漸增大,降低粉體顆粒的流動(dòng)性;其次,粉體粒度越...
查看詳情全自動(dòng)土壤比表面與孔徑分析儀借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?,吸附、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分...
查看詳情全自動(dòng)片材比表面與孔徑分析儀借助于氣體吸附原理(典型為氮?dú)猓?、脫附等溫線測(cè)定。單點(diǎn)和多點(diǎn)BET比表面積。Langmuir比表面積測(cè)定。粒度估算和真密度測(cè)試、孔隙率及孔隙度分析。BJH介孔、大孔分...
查看詳情炭塊CO?反應(yīng)性測(cè)定儀該設(shè)備采用觸摸屏與電腦端程序兩種操作控制程序,進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)對(duì)試驗(yàn)進(jìn)程、設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)、試驗(yàn)數(shù)據(jù)的監(jiān)控與處理。
查看詳情炭塊二氧化碳反應(yīng)性測(cè)定儀該設(shè)備采用觸摸屏與電腦端程序兩種操作控制程序,進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)對(duì)試驗(yàn)進(jìn)程、設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)、試驗(yàn)數(shù)據(jù)的監(jiān)控與處理。
查看詳情炭塊CO?型炭塊反應(yīng)性測(cè)定儀該設(shè)備采用觸摸屏與電腦端程序兩種操作控制程序,進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)對(duì)試驗(yàn)進(jìn)程、設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)、試驗(yàn)數(shù)據(jù)的監(jiān)控與處理。
查看詳情炭塊CO?炭陽極二氧化碳反應(yīng)性測(cè)定儀該設(shè)備采用觸摸屏與電腦端程序兩種操作控制程序,進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)對(duì)試驗(yàn)進(jìn)程、設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)、試驗(yàn)數(shù)據(jù)的監(jiān)控與處理。
查看詳情炭塊CO?反應(yīng)測(cè)定儀該設(shè)備采用觸摸屏與電腦端程序兩種操作控制程序,進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)對(duì)試驗(yàn)進(jìn)程、設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)、試驗(yàn)數(shù)據(jù)的監(jiān)控與處理。
查看詳情鋼研振實(shí)密度儀4、 試樣體積:≤250.00毫升;5、 單次振動(dòng)次數(shù):0~14750次;6、電機(jī)允許力矩:0.86 N.m;7、 振動(dòng)幅度:3mm,8、重復(fù)性誤差:≤1%;9、準(zhǔn)確性誤差:≤1%;
查看詳情實(shí)驗(yàn)室振實(shí)密度儀4、 試樣體積:≤250.00毫升;5、 單次振動(dòng)次數(shù):0~14750次;6、電機(jī)允許力矩:0.86 N.m;7、 振動(dòng)幅度:3mm,8、重復(fù)性誤差:≤1%;9、準(zhǔn)確性誤差:≤1%;
查看詳情